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首頁-技術文章-反射膜厚儀在使用時應關注哪些方面?

反射膜厚儀在使用時應關注哪些方面?

更新時間:2025-08-29      點擊次數:345
反射膜厚儀是一種利用光譜反射原理測量薄膜厚度和折射率的精密儀器,廣泛應用于半導體制造、光學鍍膜、平板顯示、太陽能電池等領域。

特點:

非破壞性測量
無需接觸或損傷樣品,可對成品、半成品進行多次復測,避免樣品損耗。

高精度與寬量程

精度:常規型號 ±2nm~±5nm;

量程:覆蓋 1nm至數百微米,部分型號支持多層膜測量。

快速高效
單次測量時間短,簡易款約 0.1~1 秒,分光法約 3~5 秒,可滿足生產線 “在線檢測” 需求。

操作便捷
內置常見材料的折射率數據庫,無需手動輸入參數;部分型號支持 “一鍵測量”,無需專業光學知識即可操作。

環境適應性強
工業級型號具備防塵、防震設計,可在車間環境穩定工作;實驗室型號支持恒溫控制(±0.5℃),進一步提升數據穩定性。

反射膜厚儀的使用注意事項:

樣品預處理:確保樣品表面清潔(無灰塵、油污),否則會影響反射光信號,導致測量誤差;

環境控制:實驗室高精度測量需避免強光直射、氣流擾動,工業場景需遠離振動源;

定期校準:使用標準膜厚樣品每月校準一次,確保儀器精度;

參數匹配:測量前需確認薄膜折射率、基底類型是否與儀器設置一致。

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